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SICK短量程激光测距传感器OD Hi

SICK OD Hi 短量程激光测距传感器为需要高精度测量的应用提供了准确的距离测量。其高精度特别适合生产过程的质量控制、分类和检查任务。目标应用包括测量尺寸、位置、外形和加工误差。能够提高产品质量,...
  • 品牌:SICK
  • 型号:OD Hi
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产品介绍

SICK OD Hi 短量程激光测距传感器为需要高精度测量的应用提供了准确的距离测量。其高精度特别适合生产过程的质量控制、分类和检查任务。目标应用包括测量尺寸、位置、外形和加工误差。能够提高产品质量,同时降低时间和材料成本。

技术参数

  • 多种测量量程:从26mm…34mm,至100mm…400mm
  • CMOS接收元件保证对各种表面的精确测量
  • 高可见度LCD显示
  • 使用激光技术可稳定测量小物体
  • 紧凑、坚固、独立使用

规格参数

  • 多种测量量程:从26mm…34mm,至100mm…400mm
  • CMOS接收元件保证对各种表面的精确测量
  • 高可见度LCD显示
  • 使用激光技术可稳定测量小物体
  • 紧凑、坚固、独立使用

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