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产品介绍
用XRD和XRF组合技术对材料进行全面分析
- 利用2维传输XRD技术进行矿物学-结晶相分析
- 使用能量色散XRF技术进行元素分析
- 数据与结果的整合天衣无缝
- 节省了操作成本、空间和时间
BTX Profiler所使用的创新型XRD技术是美国国家航空航天局成功的火星科学实验室项目中的“好奇”号漫游者曾经使用过的技术。它所采用的另一种技术是Olympus的X射线分析仪所使用的广受赞誉、优质实用的XRF技术。
规格参数
BTX Profiler的技术规格
| 用于单个样品分析的BTX Profiler | 用于多个样品分析的BTX Profiler | |
| XRD的技术规格 | ||
| XRD范围 | 5-55度 2θ | 5-55度 2θ |
| XRD分辨率 | 0.25度 2θ | 0.25度 2θ |
| XRD探测器类型 | 1024 × 256像素2维Peltier致冷CCD | 1024 × 256像素2维Peltier致冷CCD |
| 样件颗粒大小 | <150 μm碾压粉末（100目筛） | <150 μm碾压粉末（100目筛） |
| 其它样品类型 | 凝胶、润滑脂 | 凝胶、润滑脂 |
| 样品量 | ~ 0.5 g | ~ 0.5 g |
| X射线目标材料 | 铜（钴为可选项） | 铜（钴为可选项） |
| X射线管电压 | 30 kV | 30 kV |
| X射线管最大电流 | 330 μA | 330 μA |
| XRF的技术规格 | ||
| XRF探测器 | 大区域硅漂移探测器 | 大区域硅漂移探测器 |
| X射线目标材料 | 铑 | 铑 |
| X射线管几何形状 | 发射目标端窗口 | 发射目标端窗口 |
| X射线管电压 | 40 kV | 40 kV |
| X射线管最大电流 | 200 μA | 200 μA |
| 轻元素分析 | 氦冲，大约0.25 l/min | 氦冲，大约0.25 l/min |
| 主要过滤器 | 可配置7个位置 | 可配置7个位置 |
| 样品量 | ~2 g | ~2 g |
| 工作温度 | -10 °C～35°C | -10 °C～35°C |
| 重量 | 23.13 kg / 单样品仪器 | 32.66 kg / 带20个位置自动进样机的仪器 |
| 外型尺寸 | 49.3 cm × 39.7 cm × 34.4 cm / 单样品仪器 | 67.4 cm × 39.7 cm × 34.4 cm / 带20个位置自动进样机的仪器 |
BTX Profiler的技术规格
| XRD分辨率 | 0.25o 2? FWHM |
| XRD范围 | 5 - 55o 2? |
| 探测器类型 | 1024 x 256像素；2维Peltier致冷CCD |
| XRF能量分辨率 | 200eV，5.9 keV |
| XRF能量范围 | 3到25 keV |
| 样件颗粒大小 | <150 μm 碾压矿物质（100目筛，150 μm） |
| 样品量 | ~ 15 mg |
| X射线目标材料 | 钴或铜（钴为可选项） |
| X射线管电压 | 30 kV |
| X射线管功率 | 10 W |
| 数据存储 | 40 Gb - 坚固耐用的内部硬盘驱动器 |
| 无线连接 | 802.11 b/g，从网络浏览器进行遥控 |
| 工作温度 | -10oC到35oC |
| 重量 | 12.5 kg |
津公网安备12010102000946号
