测量系统 OptiSurf IR 允许测量红外镜头的中心厚度和空气距离。

OptiSurf 非常适合非接触式测量单透镜和平面光学元件的中心厚度以及测量光学系统中的气隙。低相干干涉仪只需一次扫描操作即可测量光学系统中的所有表面距离，精度高达 0.15 µm。其创新的对齐方式、可调节的样品托盘和直观的软件可以简单的方式准确定位和测量镜头和光学系统。这使得 OptiSurf 特别适合在生产中使用。

• 中心厚度和气隙的高精度测量
• 测量所有红外材料
• 5 µm 的测量精度
• 带自动对焦的测量头
• 可选与 OptiCentic IR 组合以实现对红外镜头系统的完全对准控制
• 用于初步对准样品的集成视觉激光束
• 软件

OptiSurf Professional

OptiSurf Professional 软件可以快速地测量和分析光学系统中的中心厚度和气隙。透镜系统方案中的信号曲线和颜色标记都允许快速得出关于测量的合理性和完整性的结论。通过统计评估进行多次测量可以进行高度可靠的评估。

光学对准工具，用于快速轻松地对准样品和集成在仪器底座中的测量头

经认证的 0.5“ 参考样品，可溯源至国际标准