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DICON EXFO可变背向反射器OSICS BKR

EXFO的OSICS BKR可模拟光纤系统内所有光接口上的反射率。它可在研发中作为良好的工具来测试背向反射对应答器原型造成的影响,以及在PON/WDM系统中对发射器和接收器进行压力测试。

产品介绍

EXFO的OSICS BKR可模拟光纤系统内所有光接口上的反射率。它可在研发中作为良好的工具来测试背向反射对应答器原型造成的影响,以及在PON/WDM系统中对发射器和接收器进行压力测试。

性能特点

  • 55 dB反射范围
  • OSICS BKR模块集成有可变反射器,它可设置为3至55 dB,并在很大的波长范围内工作。其大反射范围使您能够采用单台仪表涵盖任何设置。
  • 轻松的实时操作
  • 平台用户友好的界面可用于实时调整反射率。每个模块反射率都可以随时在OSICS前面板显示屏上读取。
  • OSICS平台内的单插槽模块
  • OSICS具备多种功能,包括远程命令、可容纳多达8个模块(包括DFB)、高性能可调谐激光光源和光开关。

技术参数

  • 反射率范围:最高55 dB
  • 校准范围:在1310 nm和1550 nm处最高40 dB
  • 反射率精度(典型值):±0.3 dB
  • 插损(IL):≤ 4 dB(3 dB,典型值)
  • 反射设置分辨率:0.1 dB(显示分辨率:0.01 dB)
  • 偏振相关损耗:0.2 dB
  • 速度:0.1秒/3 dB(典型值)
  • 最大输入功率:0.2 W(+23 dBm)

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