HTOL（高温工作寿命）是一种测试方法，旨在在较长时间内对设备施加压力，从而可以计算设备的长期可靠性。该测试适用于广泛的元件制造应用，尤其是 IC 制造商，包括放大器、滤波器和收发器。该概念需要一个高功率信号源和一个射频分配器系统，以在大量 DUT（被测设备）通道上并行分配测试信号，从而可以对可靠性进行统计上的计算。

HTOL-700-2700-1W 是一款现成的集成测试系统，专为 HTOL/老化测试应用而设计。完整的设置在一个标准的 19 英寸机柜中提供，能够在 700-2700 MHz 频段以 1W 的功率驱动 80 个并行 DUT。信号源可通过 USB 或以太网控制（支持 HTTP 和 Telnet 网络协议）。提供完整的软件支持，包括我们用于 Windows 的用户友好的 GUI 应用程序和带有 Windows 和 Linux 环境编程说明的完整 API。

• 完全集成的测试系统
• 80 个输出通道
• 每通道 1W 饱和功率
• 覆盖 700-2700 MHz 蜂窝频段

电源：交流电源输入（90-260 V，47-63 Hz）

工作温度：0 至 +50 ºC

射频连接器

控制板：前面板

连接器：SMA 母头

数量：80

功能：被测设备连接

尺寸：19” (W) x 37U (H) x 20” (D)

高温工作寿命 (HTOL)

大功率老化/射频压力测试

半导体/元件鉴定

大功率信号源和分配

EMC/EMI 测试